GORE® PHASEFLEX®微波/射頻測試電纜組件
對於需要精確、可重複性好的測試測量應用，戈爾微波/射(she)頻(pin)測(ce)試(shi)電(dian)纜(lan)組(zu)件(jian)在(zai)彎(wan)折(zhe)時(shi)仍(reng)然(ran)具(ju)有(you)優(you)異(yi)的(de)相(xiang)位(wei)和(he)幅(fu)度(du)穩(wen)定(ding)性(xing)。戈(ge)爾(er)組(zu)件(jian)結(jie)構(gou)堅(jian)固(gu)輕(qing)巧(qiao)，不(bu)但(dan)性(xing)能(neng)可(ke)靠(kao)，還(hai)具(ju)有(you)更(geng)長(chang)使(shi)用(yong)壽(shou)命(ming)，減(jian)少(shao)設(she)備(bei)停(ting)機(ji)時(shi)間(jian)，從(cong)而(er)使(shi)實(shi)驗(yan)室(shi)、生產和現場測試的成本降低。
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GORE® PHASEFLEX® 微波/射頻測試電纜組件產品資料
數據表格, 908.56 KB
GORE® PHASEFLEX® 微波/射頻測試電纜組件產品資料包含產品的典型應用、特點和優勢、產品構造、技術參數和產品料號等信息。
概況
在當今競爭激烈的電子行業中，可靠性對使用微波/射頻電纜組件的應用來說至關重要，因其需要確保一致、可重複的測試結果並長期保持可靠的電氣性能。因此，電纜組件必須經久耐用，可經受持續的移動、彎折和各種環境狀況的考驗，同時保持可靠的電氣性能。然而，近期的研究表明，由於在安裝或使用過程中造成的損壞，全球超過75%的微波/射頻電纜組件需要經常更換。
無論何時性能都持久可靠
GORE PHASEFLEX微波/射頻測試組件是市場上唯一具有內鎧裝結構的柔性RF測試組件，在嚴苛的環境下電氣性能保持一致，使用壽命長。我們的組件結構耐用，抗壓、抗扭、抗kang打da結jie，防fang止zhi因yin超chao過guo電dian纜lan的de最zui小xiao彎wan折zhe半ban徑jing而er造zao成cheng損sun害hai。我wo們men的de組zu件jian在zai確que保bao提ti供gong精jing確que且qie可ke重zhong複fu的de測ce量liang的de同tong時shi，可ke經jing受shou頻pin繁fan的de插cha拔ba，而er且qie部bu分fen型xing號hao電dian纜lan在zai超chao過guo10萬個彎折周期之後仍保持可靠性能。
因此，有什麼理由要去選擇每年更換幾次微波/射頻電纜組件呢？或者，你更希望在測試設備的使用壽命期間都不要更換電纜組件？GORE PHASEFLEX微波/射頻測試電纜組件比業內常見的傳統電纜組件更加可靠，更加持久——使用壽命是幾年而不是幾個月。
GORE PHASEFLEX微波/射頻測試電纜組件提供無與倫比的精確、可重複的測試測量結果，經久耐用。
應用
GORE PHASEFLEX微波/射頻測試電纜組件在各種測試測量應用中始終保持可靠的性能，包括：
圖片來源：Keysight Technologies, Inc
R&S®ZNBT矢量網絡分析儀應用。
圖片來源: Rohde & Schwarz GmbH & Co.
- 電波暗室
- 天線測試場
- 自動化測試設備
- 台式測試
- 電磁兼容測試
- 大批量RF射頻器件的生產測試
- 近場掃描儀
- 便攜式分析儀
- 標量網絡分析儀
- 測試機架係統
- 矢量網絡分析儀 (VNA)
- 無線通訊模塊測試
- 熱真空腔
- 高速數字測試
- 5G測試與互聯
如果您有任何疑問或有任何特定應用需求，請聯係戈爾代表。
特點和優點
GORE PHASEFLEX 微波/射頻測試電纜組件經工程設計特性，能夠在嚴苛的環境下提供更持久的性能。這些特點包括：
- 抗扭曲、抗擠壓、抗打結
- 耐磨
- 防塵、防潮
- 耐腐蝕
- 溫度範圍廣
- 連接器抗拉強度高
戈爾測試電纜組件具有許多優點，可幫助製造商提高電氣和機械性能，例如：
- 頻率到 110 GHz電氣性能穩定，確保一致、可重複的測試測量結果
- 堅固的電纜構造，耐壓、耐扭、耐打結，確保更長使用壽命
- 在彎折、溫度變化時保持優異的相幅穩定性
- 耐用、性能可靠，減少停機時間，提高產量
- 提供多種專門設計優化電纜性能的連接器選擇
如需了解戈爾測試電纜組件特性和優點的更多信息，請聯係戈爾代表。
GORE® PHASEFLEX®微波/射頻測試電纜組件的結構
視頻
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相關資料
GORE® PHASEFLEX® 微波/射頻測試電纜組件產品資料
數據表格, 908.56 KB
技術說明：GORE PHASEFLEX 微波射頻測試電纜組件— 0N型電纜， 高密度測試互聯應用
技術信息, 436.06 KB
Gore Product Selection Guide for 5G Test Systems
Product Selection Guides
近期新聞
美國戈爾公司今日宣布旗下產品GORE® PHASEFLEX® 微波/射頻測試組件榮獲2020年軍事與航天航空電子創新獎。經航天航空和國防界經驗豐富、廣受尊敬的評審團嚴格評比，戈爾組件具有優異的可靠性和耐久性，在電子戰(EW)/雷達裝置、電子監控/應對策略、雷達預警係統、導彈接近預警係統以及導航/通信係統的精準測試中發揮關鍵作用，因而被評為創新獎金獎。
2020國際微波展(IMS2020)上5G連接是關鍵議題，戈爾為5G測試提供一係列可靠的微波/射(she)頻(pin)測(ce)試(shi)電(dian)纜(lan)組(zu)件(jian)，將(jiang)會(hui)介(jie)紹(shao)戈(ge)爾(er)電(dian)纜(lan)組(zu)件(jian)穩(wen)定(ding)持(chi)久(jiu)一(yi)致(zhi)的(de)性(xing)能(neng)，如(ru)何(he)確(que)保(bao)準(zhun)確(que)和(he)可(ke)靠(kao)的(de)測(ce)試(shi)結(jie)果(guo)。由(you)於(yu)新(xin)冠(guan)病(bing)毒(du)疫(yi)情(qing)形(xing)勢(shi)依(yi)然(ran)嚴(yan)峻(jun)，此(ci)次(ci)展(zhan)覽(lan)首(shou)次(ci)在(zai)線(xian)上(shang)舉(ju)辦(ban)，具(ju)體(ti)時(shi)間(jian)與(yu)參(can)與(yu)方(fang)式(shi)請(qing)查(zha)看(kan)後(hou)文(wen)。
平板顯示器和半導體設備不斷發展的設計、生產技術使行業有可能朝著更高密度的設計方向發展。然而，這些更高密度的設計也使得平板顯示器和集成電路（IC）更容易受到靜電積聚和吸附粉塵的危害。W. L. Gore & Associates, Inc. (戈爾) 將於3月20日至22日在上海舉辦的2019年半導體展(SEMICON CHINA)上展示最新推出的GORE®抗靜電無拖鏈電纜，適用於潔淨室。
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